inTEST 超高速溫度循環測試機在 Flash Memory 應用|伯東國際通商

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inTEST 超高速溫度循環測試機在 Flash Memory應用

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快閃記憶體需要 inTEST 溫度測試原因:
快閃記憶體 ( Flash Memory )，是非揮發性記憶體的一種，不需電力來維持數據的儲存。又可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用於儲存程式碼，後者用於儲存數據資料。應用範圍涵蓋汽車電子、網際網路、儲存體、DSL 纜線數據機、數位電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業電子…等。為確保該裝置可在極端溫度惡劣環境中 ( 例如: 油氣探勘、重工業以及航空) 可正常實現穩健的快閃記憶體讀／寫操作功能，故需 inTEST ThermoStream 進行高溫及低溫循環測試來實行可靠度驗證。伯東國際通商股份有限公司為 inTEST Thermal Solutions 臺灣地區總代理.

快閃記憶體 (Flash Memory) 使用 inTEST 溫度測試方法:
透過與愛德萬 (Advantest ) 記憶體IC測試系統搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試 Flash Memory 的運作特性。伯東公司 inTEST ATS-545M ThermoStream 量測溫度範圍可達 -80℃ ~ 225℃，並提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode，快閃記憶體 (Flash Memory) 多採用 DUT mode 即 Device under test 模式來進行溫度循環測式，將 Flash Memory 與 inTEST ATS-545M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可精確掌控受測物達到機台所設定之溫度。

inTest

inTEST DUT Mode 示意圖:
inTest DUT

伯東公司主要經營產品德國 Pfeiffer 渦輪分子泵, 幹式真空泵, 羅茨真空泵, 旋片真空泵; 應用於各種條件下的真空測量 (真空計, 真空規管); 氦質譜測漏儀; 質譜分析儀；真空系統以及 Cryopump 冷凝泵/低溫泵,Polycold 冷凍機;美國 KRI Kaufman 考夫曼離子源/離子槍和 inTEST 高低溫循環溫度控制系統。

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